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簡(jiǎn)要描述：美國QUEST(QI2)光學(xué)成像系統，非接觸式測量系統MOI 是一種高效且高效的無(wú)損評估 (NDE) 過(guò)程，可用于檢測緊固件附近飛機蒙皮的表面和亞表面裂紋，以及亞表面腐蝕
產(chǎn)品型號：MOI +廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-01-24訪(fǎng) 問(wèn) 量：236
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詳細介紹
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美國QUEST(QI2)光學(xué)成像系統，非接觸式測量系統
20 年來(lái)，磁光成像 (MOI) 在增加飛機結構的使用和延長(cháng)壽命方面發(fā)揮了關(guān)鍵作用。MOI 是一種高效且高效的無(wú)損評估 (NDE) 過(guò)程，可用于檢測緊固件附近飛機蒙皮的表面和亞表面裂紋，以及亞表面腐蝕。使用渦流激勵，MOI 的快速掃描過(guò)程使飛機檢查員能夠觀(guān)察更多的缺陷細節，并大大減少所需檢查的停機時(shí)間。Qi2 很高興地宣布我們最新的 MOI 系統 MOI+。在我們最新的設計中，我們有
用數字接口取代模擬控制
將平視顯示器（耳機）替換為可連接到成像儀或手持式的 LCD 顯示器
在保持 45 毫米大視野 (FOV) 的同時(shí)縮小了成像器尺寸
增加了數字視頻輸出以方便記錄檢查
提高了視頻質(zhì)量
美國QUEST(QI2)光學(xué)成像系統優(yōu)勢
不需要校準
顯著(zhù)節省檢查時(shí)間
所需的操作員培訓最少
不需要脫漆或去除保護涂層
大面積快速實(shí)時(shí)檢測
證明比單獨的渦流探頭快 10 倍
特征
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